书名：公差配合与技术测量
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作者：
出版社：中央广播电视大学出版社
出版地：北京
出版时间：2017.1
出版价格：30
光滑圆柱体结合的公差与配合，技术测量基础，几何公差与检测，表面粗糙度及测量，滚动轴层、圆锥、键和花键、螺纹、圆柱齿轮公差与检测。
